智能产品测试用双头式 pogo pin 是连接测试设备与被测产品的关键组件，其设计需满足高频次、高精度的导通测试需求。这类 pogo pin 采用双针头对称结构，两端针头分别对应测试治具接口与产品测试点，通常针头直径在 0.3mm~1.2mm 之间，整体长度控制在 5mm~30mm，以适配不同厚度的 PCB 板与模组。

双头式设计的核心优势在于双向导通可靠性，通过内置弹簧（压缩行程 0.5mm~2mm）实现两端针头的独立缓冲，可补偿测试过程中的对位偏差（±0.1mm），确保接触电阻稳定在 50mΩ 以下。针对智能手表、TWS 耳机等小型化产品，双头 pogo pin 需采用微型化设计，针头采用铍铜材质（硬度 HRC38~42），表面镀金（厚度 0.5μm~1μm）以降低接触阻抗。

测试场景中，双头式 pogo pin 需承受日均 1 万次以上的插拔循环，因此弹簧寿命需达到 10 万次以上（压力衰减率≤20%）。为适配自动化测试设备，pogo pin 的针管通常设计有定位台阶，配合治具实现 ±0.02mm 的安装精度。在功能测试中，可通过双头 pogo pin 同时完成电源（大电流针，载流能力 2A~5A）与信号（小电流针，传输速率≤10Gbps）的同步测试，大幅提升测试效率。此外，部分高端型号集成了真空吸附孔，可通过负压固定被测产品，避免测试过程中的位移偏差。